一、技术指标
xrf检测设备 产品详情
产品介绍 idp-7300是一款全新开发研制的集镀层测厚、rohs指令/卤素指令/八大重金属指令一体的x荧光光谱仪。集准确、快速、无损、直观及环保五大特点，采用分析仪器的极速探测器技术（sdd）。采用德国专业技术，可实现图像联动控制，多点连续测试。新增加电动开发的样品腔使操作更加方便，全新设计自动样品平台让准确检测得到保证。
一、技术指标
型号：
idp-7300
测试对像：
粉末、固体、液体
元素分析范围：
钠（na）－铀（u）
同时多可测元素：
36种
含量分析范围：
1ppm～99.99%
工作稳定性：
总荧光强度为0.1％
测试时间：
60～200秒
探测器分辨率：
127ev±5
多道分析器：
4096道
进口dsp数字信号处理芯片
64位处理
x射线光管：
功率50w，靶材可选ag、rh、w、mo
高压电源：
电压范围0~50kv，稳定度每小时小于0.05%
低检出限：
cd/cr/hg/br≤1ppm,pb/sb/se/ba≤2ppm,cl≤5ppm
探测系统：
全自动对点探测系统鼠标点击,自动对点
升降软件系统：
电控全自动机盖升降软件独立控制
外型尺寸：
720mm×560mm×450mm(不包括支脚)
测量仓：
400mm×280mm×100mm
重量：
60kg
镀层技术参数：
可测镀层数：
多可达5层
镀层种类：
单金属镀层、合金镀层
镀层识别精度：
分析检出限可达2ppm，可测试0.005μm。
厚度测试范围：
轻金属（如：ti、cr等）0.01～50um
中金属（如：ni、cu、zn、pd、ag、sn等）0.01～30um
重金属（如：pt、au、pb等）0.005～15um
标准配置
配置
数量
单位
仪器主机部分主要配置
1
套
1. sdd硅漂移探测器(进口) amptek
1
套
2.低功率x光管
1
个
3. 高压电源
1
个
4. 2048道数字多道分析器
1
套
5. 高精密ccd
1
个
6. 滤光片组
5
组
7. 准直器：8种准直器自动切换
6
个
主要性能优势：
采用极速探测器技术；
分辨率低至125ev；
探测信噪比更强，检出限更低；
采用的数字多道技术；
采用大功率x光管及*的准直滤光系统；
光闸系统，提高测试效率与测试精度；
精密的定位系统，更清晰的显示测试点；
多点测试，多点连续测试超小样品检测；
人性化的设计：更安全、更快捷：预约预热：预约关机。
优点：
1、可测rohs及金属镀层，rohs/无卤元素分析可以一次性测试完成，无需分开测试。
2、核心配件均采用进口件
3、仪器测试过程中无意开盖，仪器装有开盖切断开关，可预防辐身安全。
4、每年进行仪器免费检测调校
5、x光管设计使用寿命为2万小时.德谱*的延长光管使用寿命的技术：
(1)、光管自动防老化功能。
(2)、自动跟进不同材质选择不同的光管电流。
(3)、强大的散热系统保证光管正常的工作条件;
售后服务
1、免费提供2-3个工作日rohs培训及仪器操作使用。
2、软件*升级，提供效的技术服务，7×24小时响应，在接到用户故障信息后4小时内响应，24-72小时内派人上门维修和排除故障
3、安装、调试、验收、培训及技术服务均为免费在用户方现场对操作人员进行培训。
4、仪器终身维护，每年将定期提供免费检查，维护保养。